A análise elementar de aerossóis atmosféricos é fundamental para a determinação quantitativa de fontes de partículas e a otimização das estratégias de controle de poluição do ar em áreas urbanas e estudos geoquímicos (Artaxo et al., 2001, Van Grieken et al., 2005). Diversas técnicas analíticas são amplamente aplicadas à análise de elementos traços em aerossóis. A análise pelo método nuclear PIXE (Particle Induced X-ray Emission), onde a amostra de aerossóis é irradiada com feixes de prótons de alta energia. Esta técnica tem bons limites de detecção, mas alto custo de análise, pela necessidade de operação e manutenção de um acelerador nuclear (Artaxo et al., 1999). A técnica de ICP-MS (Induced Coupled Plasma-Mass Spectrometry) é também utilizada na análise elementar, mas tem a desvantagem de requerer uma trabalhosa preparação de amostra. A técnica de Fluorescência de Raios-X (FRX) é a que permite o melhor compromisso entre praticidade, precisão analítica e limites de detecção. Até 5 a 10 anos atrás, os limites de detecção, precisão e acurácia da técnica PIXE eram superiores aos da FRX. Atualmente com instrumentos utilizando novas tecnologias como excitação por feixe polarizado e alvos secundários, os limites de detecção da técnica de FRX com feixe polarizado atingem valores até 10 vezes melhores do que a técnica PIXE, dependendo das condições de excitação e detecção. A determinação de elementos traços e fundamental para que possamos identificar as fontes de poluição do ar e vários processos que regulam as transformações das partículas de aerossóis na atmosfera.